Polskie Centrum LabVIEW

Witam !
Otóż projektuję aplikację służącą do analiza niepewności pomiarów. Aplikacja ta wykorzystuje symulacyjny generator sinusoidy ( zatem które nie wprowadza żadnych błędów ) zakłócony szumem białym o danym odchyleniu standardowym. O ile w przypadku wyznaczenia niepewności typu A nie było problemów gdyż jest to typowy algorytm analityczny wygenerowanych próbek, tak nie bardzo wiem jak podejść do tego zagadnie z perspektywy niepewności typu B . Wiem że przeważnie jest ono wyznaczalne na podstawie karty katalogowej danego urządzenia (lub sposobem 1 przedziałka /√3) , jednakże w moim przypadku za daną niepewność odpowiedzialny jest właśnie owy szum. Szukałem na google o danej zależności, niestety nic konkretnego nie znalazłem na ten temat. Czy ktoś ma pomysł jak podejść do tego zagadnienia ?

Niepewność typu B jest to niepewność wyznaczona z uwzględnieniem wielkość niestatystycznych, czyli: dokładności przyrządów pomiarowych, błędu metody pomiaru itp (ogólnie błędy systematyczne).
Aby dołączyć je do uprzednio wyznaczonej niepewności stosuje się ogólnie zgodnie ze wzorem rozszerzenia wariancji (1/3)*Ex gdzie Ex to np dokładność przyrządu pomiarowego.
Polecam przeanalizowanie np wywodu z http://www.imiue.polsl.pl/~wwwzmiape/la ... /M/M20.pdf
Polecam wzór (4) z http://www.iwiedza.net/download/niepewnosci.pdf