Wypadkowa z kilku wykresów

Tematy związane z tworzeniem dużych aplikacji. Zaganiednia dotyczące architektury oraz zasad tworzenia optymalnych rozwiązań.
dzojstik22
Posty: 103
Rejestracja: 17 gru 2011 21:33
Wersja środowiska: LabVIEW 2011

Wypadkowa z kilku wykresów

Post autor: dzojstik22 »

Witam,
mam pewien problem z wyznaczeniem wykresu wypadkowego. Mam program który posiada dwa wykresy i je bezproblemowo wykreśla. Chciałbym użyć "jakiejś funkcji,opcji itd." która pozwalała by wyświetlić wykres wypadkowy z tych dwóch wykresów. Wymyśliłem coś takiego aby dodawać do siebie współrzędne y obu wykresów dla tego samego x. Następnie wynik podzielić przez 2 i uzyskać "średni y". Jednak w moim przypadku "iksy" dla wykresu pierwszego nie odpowiadają "iksom" z wykresu drugiego. Więc to się u mnie nie sprawdza...
Myślałem też o aproksymacji wykresów? Ale czy to się sprawdzi?
Załączniki
wykresy wypadkowa.vi
(16.48 KiB) Pobrany 341 razy
TMa
Posty: 203
Rejestracja: 07 sty 2010 12:56
Wersja środowiska: LabVIEW 2017

Re: Wypadkowa z kilku wykresów

Post autor: TMa »

Najwygodniej będzie jak wyrównasz im częstotliwość próbkowania. Jeżeli różnią się o stałą wielokrotność możesz użyć prostej interpolacji lub decymacji. Jeżeli nie to należałoby ekstrapolować - teorii do tego dużo. Może po prostu spróbuj tego Converting Waveform Sampling Rates:)
dzojstik22
Posty: 103
Rejestracja: 17 gru 2011 21:33
Wersja środowiska: LabVIEW 2011

Re: Wypadkowa z kilku wykresów

Post autor: dzojstik22 »

Może pokażę jak wyglądają wyniki z tego miernika. Próbkowanie było ustawione na 0,2s czyli w ciągu sekundy miało być pobrane 5 próbek. W załącznikach znajduje się jeden zestaw próbek. Z tych czterech wykresów chciałbym uzyskać jeden wypadkowy. Pojedynczo potrafię je wczytać ale jak wczytać ich kilka i wyznaczyć ten wypadkowy to się zastanawiam.
Załączniki
20d.jpg
20c.jpg
20b.jpg
20a.jpg
TMa
Posty: 203
Rejestracja: 07 sty 2010 12:56
Wersja środowiska: LabVIEW 2017

Re: Wypadkowa z kilku wykresów

Post autor: TMa »

Niedokładnie rozumiem zagadnienie. Ustalmy fakty:

1. Mamy cztery serie pomiarowe.
2. Każda z nich składa się z przebiegu sygnału (nasz Y) w dziedzinie czasu.
3. Ma tą samą częstotliwość próbkowania (?).
4. Jest ustalona chwila t0, w którym rozpoczął się pomiar.

Jeśli wszystkie powyższe warunki są spełnione, to indeksujesz każdy bufor i wyliczasz średnią z pomiarów w danej próbce t0+i zapisując ją do nowego bufora.

Jeśli pkt.3 lub pkt 4 nie jest spełniony dążysz (poprzez przetwarzanie/przeliczenie), aby ilość próbek w każdej serii była taka sama zachowując podstawę czasu jako referencję. Potem wykonujesz poprzedni akapit.
dzojstik22
Posty: 103
Rejestracja: 17 gru 2011 21:33
Wersja środowiska: LabVIEW 2011

Re: Wypadkowa z kilku wykresów

Post autor: dzojstik22 »

1). tak mamy cztery serie pomiarowe- czyli wykonano cztery pomiary dla jednakowych próbek w takich samych warunkach laboratoryjnych.
2). tak analizuję wartość Y w dziedzinie czasu. Są to dane czasowe z miernika, który podał mi wartość zmierzoną i dokładny czas pomiaru (godzina:minuta:sekunda:setna sekundy).
3). tak w ustawieniach miernika ustawiłem aby było 5 odczytów na sekundę. Czyli odczyt co 0,2s. Takie ustawienia dotyczą wszystkich próbek. Więc próbkowanie jest jednakowe dla wszystkich pomiarów.
4). Start maszyny i miernika jest różny. Maszyna miała luzy. Sam ustalałem kiedy wystartować miernik. Początki wykresów w postaci linii poziomej to wynik luzów maszyny kiedy jeszcze nie pracowała. Charakterystyka rosnąca lub malejąca to charakterystyka pracy maszyny.

Dodatkowo może pokażę jak wygląda taki plik z odczytem z miernika:
Załączniki
01.jpg
01.jpg (472.54 KiB) Przejrzano 6656 razy
ODPOWIEDZ