czy takie działanie uszkadza kartę?

Wszelkie sprawy związane z LabVIEW i komunikacją ze sprzętem. Problemy i ciekawe rozwiązania.
blumen
Posty: 18
Rejestracja: 19 kwie 2011 18:21
Wersja środowiska: LabVIEW 2010

czy takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: blumen »

czy możliwe jest uszkodzenie karty NI MYDAQ, gdy używa się programu DMM (digital multimeter) a w nim ustawione mierzenie rezystancji i auto skala, a przyłoży się przewody pomiarowe do baterii 1,5V (zwykły paluszek)??

Zapomniałem się i nie zmieniłem funkcji, nie wiem czy moja karta nie ma teraz jakichś przekłamań.

To jest karta przeznaczona głównie dla studentów, więc może jest zabezpieczona przed taką nieuwagą?
Ostatnio zmieniony 16 maja 2011 08:12 przez blumen, łącznie zmieniany 1 raz.
de80
Posty: 90
Rejestracja: 02 sty 2011 22:46
Wersja środowiska: LabVIEW 2014
Lokalizacja: KRK

cz takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: de80 »

raczej nie powinno się nic uszkodzić, myDAQ posiada bezpiecznik jest o tym informacja w datasheecie http://www.ni.com/pdf/manuals/373060a.pdf. a pomiar rezystancji baterii jest wykonywany np. przy sprawdzaniu stanu(zużycia) baterii. rozumiem, że karta działa?
pozdrawiam
Obrazek
blumen
Posty: 18
Rejestracja: 19 kwie 2011 18:21
Wersja środowiska: LabVIEW 2010

cz takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: blumen »

działa, ale sprawia wrażenie jakby nie działał najniższy zakres napięciowy. Przy kabelkach pomiarowych wiszących w powietrzu pokazuje się wartość od -200mV do + 200mV (skacze / lata). Wiem, że takie mierniki "chińskie", elektroniczne, za 5 zł, to jak się ustawi pomiar rezystancji, a przyłączy się napięcie to szlag go trafia. dlatego z mydaq tez sie boję...
smiglo
Posty: 110
Rejestracja: 18 sty 2006 00:00
Wersja środowiska: LabVIEW 2010
Lokalizacja: Bydgoszcz

Re: czy takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: smiglo »

Jeśli zewrzesz wejścia i będą takie cuda to rzeczywiście powód do zmartwienia (bo powinno być 0 V). W przypadku "wiszących" wejść tak może być. A najlepiej weź kolego zasilacz i sprawdź :).
smiglo
de80
Posty: 90
Rejestracja: 02 sty 2011 22:46
Wersja środowiska: LabVIEW 2014
Lokalizacja: KRK

czy takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: de80 »

Testing Your Fuse
To test for a blown fuse, complete the following steps.
1. Using a banana cable, connect the HI (V) and HI (A) DMM terminals.
2. Launch the NI ELVISmx Digital Multimeter (DMM) Soft Front Panel
instrument from the NI ELVISmx Instrument Launcher, located at
Start»All Programs»National Instruments»NI ELVISmx for
NI ELVIS & NI myDAQ»NI ELVISmx Instrument Launcher.
3. Select the Resistance mode.
4. Set the Range to 200 Ω.
5. Click Run.
6. If the fuse is blown, the display will show +Over, indicating a
disconnected circuit path. Replace the fuse and complete the procedure
again.
Obrazek
blumen
Posty: 18
Rejestracja: 19 kwie 2011 18:21
Wersja środowiska: LabVIEW 2010

czy takie działanie uszkadza kartę?

Post autor: blumen »

czyli wszytko mam sprawne :) Dzięki za pomoc i zainteresowanie.
ODPOWIEDZ