Automated Test Summit 2011

Ogłoszenia związane z LabVIEW
Awatar użytkownika
bogdani
Administrator
Posty: 1309
Rejestracja: 30 lip 2003 00:00
Wersja środowiska: LabVIEW 2015
Lokalizacja: Ruda Śląska
Has thanked: 1 time
Been thanked: 1 time
Kontakt:

Automated Test Summit 2011

Post autor: bogdani » 12 kwie 2011 22:53

Obrazek
Obrazek
Automated Test Summit 2011
Warszawa – 19 kwietnia 2011 | Kraków – 21 kwietnia 2011 | Wrocław – 27 kwietnia 2011
Program i streszczenia prezentacji są już dostępne!
Firma National Instruments z dumą pełni po raz drugi rolę gospodarza konferencji Automated Test Summit. Jest to bezpłatna, jednodniowa konferencja dedykowana inżynierom projektującym i testującym najnowocześniejsze produkty z praktycznie każdej branży przemysłowej. Testowane produkty obejmują szeroki wachlarz dóbr, począwszy od sprzętu AGD, przez najnowszą elektronikę użytkową, w tym zestawy TV i dekodery STB, kończąc na zaawansowanej technologicznie elektronice stosowanej w cywilnych i wojskowych systemach transportowych, np. w transponderach radiowych w awionice, multimedialnych systemach samochodowych lub elektronicznych jednostkach sterujących.
» ni.com/poland/automatedtest

Program konferencji
  • Prezentacje: Integratorzy systemów, użytkownicy i inżynierowie firmy NI przedstawią prezentacje na wybrane tematy. Dalsze szczegóły poniżej.
  • Wystawa: Demonstracja produktów firmy National Instruments i rozwiązań naszych partnerów.
  • Know-how: Przedstawienie metod i platform redukujących łączny koszt testowania i przyspieszających opracowywanie testów dla produktów i systemów o dowolnym stopniu złożoności.
  • Nawiązywanie znajomości: Możliwość poznania kolegów i koleżanek z branży.
  • Egzamin TestStand: Bezpłatny egzamin Certified TestStand Developer (CTD).
    Więcej szczegółów poniżej.
  • Egzamin LabVIEW: Bezpłatny egzamin Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD).
    Więcej szczegółów poniżej.
Program i streszczenia prezentacji są już dostępne!

NI Automated Test Summit 2011 odbędzie się w 3 miastach Polski: Warszawie, Krakowie, Wrocławiu. Zachęcamy do zapoznania się z programem konferencji:
» Program Warszawa 19.04.2011
» Program Kraków 21.04.2011
» Program Wrocław 27.04.2011

Prezentacje
• Programowo zdefiniowane architektury systemów testowych.
• Najnowsze technologie w testach RF, w tym przesyłanie strumieni danych przy wykorzystaniu połączeń P2P i przetwarzanie sygnałów w układach FPGA (Field Programmable Gate Array).
• Optymalizacja czasu wykonywania sekwencji testowych opracowanych w środowisku NI TestStand.
• Testy w czasie rzeczywistym z wykorzystaniem układów FPGA.
• Wyspecjalizowane kroki testów dla audio/wideo.
• Systemy pomiarowe o wysokiej rozdzielczości, dużej częstotliwości próbkowania i systemy wielopunktowe.
• Automatyczne systemy wizyjne do wykrywania uszkodzeń mechanicznych elementów/części.

Bezpłatne egzaminy
Wszyscy uczestnicy mają prawo do przystąpienia bezpłatnie do egzaminów Certified TestStand Developer (CTD) lub Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD). Egzaminy te poświadczają zrozumienie głównych właściwości i funkcjonalności środowisk NI TestStand i NI LabVIEW.

Aby zarejestrować się na egzamin CTD lub CLAD, należy wysłać wiadomość e-mail na adres register.poland@ni.com. Prosimy podać w wiadomości swoje imię i nazwisko, nazwę firmy bądź instytucji, numer telefonu oraz adres e-mail a także określić, którym egzaminem są Państwo zainteresowani.
W przypadku jakichkolwiek pytań na temat egzaminów CTD lub CLAD prosimy o kontakt pod numerem telefonu 00 800 361 1235
Automated Test Summit 2011 - ni.com/poland/automatedtest

» Rejestracja

Zablokowany