Jednoczesny pomiar dwóch parametrów tego samego sygnału

Jeśli masz coś do powiedzenia w sprawie LabVIEW napisz. Tutaj są tematy, których nie można uściślić do innych działów.
r34t0r
Posty: 2
Rejestracja: 15 mar 2015 03:19
Wersja środowiska: LabVIEW 2014

Jednoczesny pomiar dwóch parametrów tego samego sygnału

Post autor: r34t0r »

Witam,

Mam oto taki problem.
Projektuję stanowisko pomiarowe do badania parametrów przepływomierzy wirowych.
Przepływomierz posiada wyjście cyfrowe na którym pojawia się sygnał TTL.
Obecnie sygnał ten symuluję zwykłym generatorem fali protokątnej.
Docelowo program ma dokonywać pomiaru przez zadaną liczbę impulsów.
Do tego mam mierzyć czas trwania tego pomiaru, oraz okres każdej próbki (odwrotność częstotliwości), a następnie na podstawie tych próbek liczyć wartość średnią okresu oraz RSD (względne odchylenie standardowe).
Zbudowałem już VI w którym korzystam z Counter Edge'a i liczę sobie w pętli określoną liczbę impulsów i w każdym przejściu pętli sprawdzam czy nie jest ona >0, jeśli tak to kończę pomiar.
Wszystko działało OK, do momentu kiedy nie dodałem drugiego pomiaru - Period Counter.
Labview wymusił na mnie użycia drugiego countera - ctr1 (impulsy zliczałem ctr0). więc sygnał mam podpięty pod dwa wejścia PFI8 oraz PFI4.
Teraz problem wygląda następująco:
Impulsy są liczone 'co dwa', a próbki czasu trwania okresu mam ich połowę - co drugą.

Tu link jak aplikacja zachowywała się w momencie użycia jednie Edge Countera:
http://youtu.be/5ctxWK91GAg

A tak przy zastosowaniu Edge Counter + Period Counter:
http://youtu.be/Oy351Gpo0mA

Wygląda to tak jakby jeden okres był mierzony przez Edge Countera a kolejny przez Period i tak na zmianę.
To że pomiar obydwu wartości jednoczenie jest możliwy sprawdziłem sobie w MAX'ie:
http://youtu.be/gCgSuGqzRWA

Tak wygląda pętla pomiarowa z filmu nr1:
https://imagizer.imageshack.us/v2/1126x ... luHnYE.png
A tak z filmu nr2:
https://imagizer.imageshack.us/v2/1152x ... 0VG9GF.png

Karta z której korzystam to NI-6023E.

Pozdrawiam
ODPOWIEDZ